Pattern Analysis and Machine Intelligence

Pattern Analysis and Machine Intelligence

First International Conference, ICPAMI 2024, Shanghai, China, August 30 - September 1, 2024, Proceedings

Gong, Chen; Yang, Jie; Zheng, Yuanjie

Springer Nature Switzerland AG

04/2025

243

Mole

9789819633487

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Machine learning;Computing methodologies;Artificial intelligence;Computer vision;Pattern Analysis;Activity recognition and understanding;Image Processing;Multimedia information systems;Vision for robotics