Atomic Force Microscopy: A Concise Introduction
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Atomic Force Microscopy: A Concise Introduction
Burnham, Nancy A
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
03/2026
250
Dura
Inglês
9789819823093
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Atomic Force Microscopy (AFM), Scanning Probe Microscopy (SPM), Microscopy, Instrumentation, Nanoscience, Nanotechnology, Nanomechanics, Mechanical Properties at the Nanoscale
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